ubi20z透射电子显微镜（TEM）是研究材料微结构zui直接的表征技术之一，能够在纳米到原子尺度对材料微结构进行成像与分析，目前，应用于材料的电学参数表征方法可以分为两大类：一类为宏观尺度技术，比如四点探针法或范德堡法，光学测量等，允许...     查看详细>>